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原子力顯微鏡（AtomicForceMicroscope，AFM）是一種能夠在納米尺度下觀察和測量材料表面形貌、力學性質的高分辨率顯微鏡。其探針是實現這一功能的關鍵部件之一。原子力顯微鏡探針的構成主要包括探針頭、彈性臂和掃描儀。其中，探針頭是用于接觸樣品表面進行掃描的部分，也是實現高分辨率成像的重要組成部分。探針頭通常......

spm掃描探針顯微鏡是一種高分辨率的表面分析技術，它利用納米級尖掃描探頭探測樣品表面的拓撲、電學、磁學等性質。在材料科學、生物醫學和電子工程等領域有廣泛應用。SPM的基本原理是通過一個微小的探針在非接觸或輕微接觸條件下掃描樣品表面，并通過檢測掃描探針與樣品表面之間的相互作用力來獲取樣品表面的信息。探針通常由半導體、金屬......

高分辨率原子力顯微鏡是一種特別的顯微鏡，它能夠以非常高的分辨率探測物質表面。它的工作原理基于探測物體表面的微小高度變化。AFM使用一個非常小的探頭，探頭尖直徑只有幾個納米，通過掃描探針來測量物體表面的高度和形狀。探針通常由非常細的針頭、光纖或者金屬箔制成。當探針接觸到物體表面時，會發生微小的力作用，這個力可以在探針尖產......

多功能掃描探針顯微鏡的基本工作原理是利用探針與樣品表面原子分子的相互作用，即當探針與樣品表面接近至納米尺度時形成的各種相互作用的物理場，通過檢測相應的物理量而獲得樣品表面形貌。掃描探針顯微鏡豐要由探針、掃描器、位移傳感器、控制器、檢測系統和圖像系統5部分組成。而原子力顯微鏡是一種掃描探針顯微鏡的一支，更具有優勢。尤其是......