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原子力顯微鏡（AtomicForceMicroscopy，AFM）是一種高分辨率的掃描探針顯微鏡技術，通過檢測探針與樣品表面之間的微弱相互作用力來繪制出樣品表面的三維形貌圖。在AFM中，探針的選擇對成像質量和測量精度至關重要。膠體探針作為一種特殊的AFM探針，因其性質和廣泛的應用而受到關注。原子力顯微鏡膠體探針的基本工......
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緊湊型原子力顯微鏡基于量子力學中的隧道效應原理工作。當兩個物體之間的距離非常接近時，它們之間的電子云會發生重疊，從而產生隧道電流。通過測量這個隧道電流的變化，可以精確地探測到樣品表面的微小結構和形貌。具有亞納米級的分辨率，能夠清晰地觀察到原子級別的表面結構。它不僅可以提供二維圖像，還可以進行三維形貌重構，為研究材料的表......
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多功能掃描探針顯微鏡是一種強大的表面分析工具，它能夠在納米尺度上對材料的表面形貌、物理性質、化學性質等進行綜合分析。SPM家族中最常見的兩種類型是掃描隧道顯微鏡（STM）和原子力顯微鏡（AFM）。這些顯微鏡不僅在科學研究中發揮著重要作用，也在材料科學、生物學、半導體工業等領域找到了廣泛的應用。SPM的工作原理基于探針與......
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多功能原子力顯微鏡（AFM）是一種具靈活性和高分辨率的表面分析儀器，它不僅能夠提供材料表面的三維形貌圖像，還能在納米尺度上對材料進行操控和性質測量。這種顯微鏡的出現極大地推動了材料科學、生物學、納米技術等領域的研究進展。原子力顯微鏡利用一根尖銳的探針在樣品表面掃描，通過檢測探針與樣品表面相互作用力的變化來獲得樣品表面的......
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